WAYOUT-QC-08元器件檢驗(yàn)細(xì)則
1目的 為了確保產(chǎn)品質(zhì)量，防止具有明顯缺陷的元器件進(jìn)入生產(chǎn)過程，特制定本檢驗(yàn)細(xì)則。 2適用范圍 該檢驗(yàn)細(xì)則規(guī)定了外購的元器件的檢驗(yàn)要求和步驟。適用于北京威奧特信通科技有限 公司產(chǎn)品研發(fā)部所承擔(dān)的硬件開發(fā)、設(shè)備研制、生產(chǎn)項(xiàng)目所用元器件的檢驗(yàn)。 3職責(zé) 3.1項(xiàng)目組負(fù)責(zé)提出對(duì)元器件的檢驗(yàn)要求，屬常規(guī)檢驗(yàn)的，填寫元器件檢驗(yàn)登記表,交產(chǎn) 品研發(fā)部檢驗(yàn)員檢驗(yàn)；對(duì)需進(jìn)行篩選的，送元器件檢測中心進(jìn)行篩選。 3.2產(chǎn)品研發(fā)部檢驗(yàn)員負(fù)責(zé)實(shí)施檢驗(yàn)工作,填寫檢驗(yàn)記錄并進(jìn)行檢驗(yàn)狀態(tài)的標(biāo)識(shí)。 4檢驗(yàn)總要求 4.1對(duì)無特殊要求的元器件只進(jìn)行常規(guī)檢驗(yàn)。 4.2 對(duì)只需進(jìn)行常規(guī)檢驗(yàn)的集成電路，若無相應(yīng)的檢驗(yàn)設(shè)備但可插入插座的，可插入試驗(yàn) 樣機(jī)的插座上進(jìn)行功能試驗(yàn)，試驗(yàn)環(huán)境須經(jīng)產(chǎn)品研發(fā)部檢驗(yàn)員認(rèn)可，由產(chǎn)品研發(fā)部檢 驗(yàn)員判定檢驗(yàn)結(jié)果并填寫檢驗(yàn)記錄。 4.3 對(duì)有明確篩選要求或可靠性要求的元器件，由項(xiàng)目組編寫元器件篩選大綱，送元器件 檢測中心進(jìn)行篩選。 5常規(guī)檢驗(yàn) 常規(guī)檢驗(yàn)是指通過目檢、常溫功能測試來排除被檢元器件明顯缺陷的一種檢驗(yàn)手段。 常規(guī)檢驗(yàn)按以下步驟進(jìn)行： 5．1對(duì)送檢的元器件進(jìn)行目檢，檢驗(yàn)的內(nèi)容包括元?dú)馄骷挠行?、有無斷裂銹蝕、標(biāo) 識(shí)是否清淅。 5．2對(duì)電阻器用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù)，主要參數(shù)有：額定值、精度 5．3對(duì)電容器用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù)。主要參數(shù)有：額定值、耐壓、精度 。 5．4對(duì)電感線圈用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù)。主要參數(shù)有：額定值、精度。 5．5對(duì)晶體管用晶體管測試儀器測量，主要參數(shù)有：放大倍數(shù)、耐壓。 5．6對(duì)集成電路用集成電路測試儀進(jìn)行功能檢驗(yàn)，在試驗(yàn)樣機(jī)平臺(tái)上進(jìn)行篩選時(shí)，累計(jì) 工作時(shí)間為12小時(shí)。 6 環(huán)境應(yīng)力篩選 對(duì)需要進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力篩選的元器件，由項(xiàng)目組編寫元器件篩選大綱，送元器件檢測中 心進(jìn)行篩選。 7 檢驗(yàn)結(jié)果的處理 7.1檢驗(yàn)員將測試的結(jié)果填寫在《元器件檢驗(yàn)表》中。 7.2若其中一項(xiàng)指標(biāo)不合格或沒通過,即判為不合格品。 7.3對(duì)檢驗(yàn)合格的產(chǎn)品進(jìn)行標(biāo)識(shí)。 8 引用文件 |序 號(hào) |名 稱 |編 號(hào) | |1 |電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指 |GJB/Z 34 | | |南 | | |2 |電子測量儀器環(huán)境試驗(yàn)總綱 |GB 6487.1 | 9 記錄 |序 號(hào) |名 稱 |模 板 編 號(hào) | |1 |元器件檢驗(yàn)表 |WAYOUT-QF-64 |
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