來料檢驗規(guī)范

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清華大學(xué)卓越生產(chǎn)運營總監(jiān)高級研修班

綜合能力考核表詳細(xì)內(nèi)容

來料檢驗規(guī)范
|深圳市安吉龍科技有限公司 |文件編號:QC-WI-007 |擬制:唐 鋒 | |檢驗規(guī)范 | | | |來料檢驗 | | | | |版 號:V1.0 | | | |生效日期:2003/09/01 | | | |頁 碼: | | |目的: | |控制上線物料質(zhì)量,規(guī)定物料接收的檢驗標(biāo)準(zhǔn),使檢驗時有據(jù)可依,確保生產(chǎn)使用的物料都是 | |合格品。 | |范圍: | |本檢驗標(biāo)準(zhǔn)適用于原材料、輔料、半成品或成品等的進(jìn)入公司的所有物料。 | |相關(guān)標(biāo)準(zhǔn): | |《中國國家標(biāo)準(zhǔn)》 | |《中國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)》 | |《國際標(biāo)準(zhǔn)》 | |檢驗方式: | |若無特別規(guī)定,檢驗采用抽檢方式,依據(jù)《抽樣計劃表》。 | |AQL: | | | | | | | | | |檢驗內(nèi)容: | |電氣性能和外觀檢驗. | |取樣: | |檢驗樣品從待檢的批量中隨機抽取。 | |合格與不合格的判定: | |每個樣品統(tǒng)計出檢驗不合格數(shù)量:A或B; | |沒有任何缺陷的樣品為OK; | |根據(jù)樣品檢驗結(jié)果,對照抽樣方案判定合格數(shù)量是否達(dá)到要求數(shù)量,若在樣品中不合格品大于 | |或等于抽樣方案對應(yīng)的不合格判定數(shù),則該批物料為不合格。 | |不合格品的存放: | |在抽檢過后,此批物料需退回供應(yīng)商,應(yīng)將抽到不合格的樣品,另外包裝并作明確標(biāo)識,放回 | |原包裝內(nèi),以便日后供應(yīng)商復(fù)核。 | |檢驗報告的填寫: | |填寫好報告上對應(yīng)的欄目,檢驗無缺陷只需在檢驗欄填寫OK或檢驗無不良,有缺陷就在檢驗結(jié) | |果欄填寫缺陷原因。 | |深圳市安吉龍科技有限公司 |文件編號:QAD-WI-007 |擬制:唐 鋒 | |標(biāo)題:QA檢驗規(guī)范 | | | |來料檢驗 | | | | |版 號:V1.0 | | | |生效日期:2003/09/01 | | | |頁 碼: | | |類別 |項次 |檢驗項目 |不良敘述 |缺陷分類 |檢驗方式 | | |1 |有污 |1.1引腳有污,但易擦掉 |B |目檢 | | | | |1.2元件腳有污,很難擦掉 |A |目檢 | | | | | | | | | | | | | | | |電 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |阻 | | | | | | | |2 |氧化 |2.1.引腳有輕微氧化,易上錫 |B |目檢/試驗 | | | | |2.2.引腳發(fā)黑氧化嚴(yán)重,已不易上錫 |A |目檢/試驗 | | |3 |破損 |3.1.保護(hù)層油漆有輕微脫落且在側(cè)面不易看 |B |目檢 | | | | |到 | | | | | | |3.2.破損嚴(yán)重,色環(huán)及保護(hù)層脫落且在正面 |A |目檢 | | |4 |絲印 |4.1.色環(huán)有輕微模糊,但可辯認(rèn) |B |目檢 | | | | |4.2.色環(huán)模糊不請,無法辯認(rèn) |A |目檢 | | |5 |型號 |來料、型號不對或同一包裝中有兩種以上的 |A |對BOM單 | | | | |型號 | | | | |6 |精度 |6.1.測試時,金色誤差超出±5% |A |萬用表 | | | | |6.2.測試時,銀色誤差超出±10% |A |萬用表 | | | | |6.3.測試特殊要求的電阻時與BOM單不同 |A |萬用表/對BOM| | |7 |阻值 |測試阻值與所標(biāo)色環(huán)值不同 |A |萬用表 | | |1 |有污 |1.1.元件腳不光亮,有污但可擦掉,且可上 |B |目檢/試驗 | | | | |錫 | | | | | | | | | | | | | | | | | |電 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |容 | | | | | | | | | |1.2.元件腳有污,很難擦掉 |A |目檢 | | |2 |氧化 |2.1.引腳有輕微氧化,可上錫 |B |目檢/試驗 | | | | |2.2.引腳氧化較為嚴(yán)重,已難上錫 |A |目檢/試驗 | | |3 |破損 |3.1.破損,影響外觀,有輕微破損 |B |目檢 | | | | |3.2.破損會影響電氣性能 |A |目檢 | | |4 |絲印 |4.1.絲印略有重影、模糊,可辯認(rèn) |B |目檢 | | | | |4.2.電容耐壓值或極性標(biāo)反、標(biāo)錯 |A |目檢/對BOM | | | | |4.3.絲印模糊不清,難以辯認(rèn) |A |目檢 | | |5 |體積 |電容體積型號與BOM要求不同 |A |對BOM | | |9 |容量 |實測容量與本身所標(biāo)容量不同 |A |電容表 | | |7 |精度 |誤差超出了J±5%、K±10%、z % 、M±20% |A |電容表/對BOM| | | | |范圍,特殊要求精度的電容與BOM單要求不同| | | | |1 |氧化 |1.1.引腳有輕微氧化,輕微發(fā)黑,但可上錫 |B |目檢/試驗 | |IC | | | | | | | | | |1.2.引腳氧化,不易上錫。錫球發(fā)暗、發(fā)黑 |A |目檢/試驗 | | | | |。 | | | | |2 |變形 |引腳變形嚴(yán)重,有折斷危險。錫球變形、脫 |A |目檢 | | | | |落 | | | | |3 |絲印 |IC上邊絲印用手用力擦過5次,絲印模糊 |A |手擦 | |深圳市安吉龍科技有限公司 |文件編號:QAD-WI-007 |擬制:唐 鋒 | |標(biāo)題:QA檢驗規(guī)范 | | | |來料檢驗 | | | | |版 號:V1.0 | | | |生效日期:2003/09/01 | | | |頁 碼: | | |類別 |項次 |檢驗項目 |不良敘述 |缺陷分類 |檢驗方式 | | |4 |型號 |同一包裝內(nèi)有兩種以上的型號 |A |目檢/對BOM | | |5 |破損 |殼體裂痕、破損、 |A |目檢/對BOM | |晶 |1 |氧化 |引腳、外殼有氧化 |A |目檢/對BOM | |振 | | | | | | | |2 |絲印 |絲印模糊不清,用手可擦掉 |A |目檢 | | |3 |型號 |同一包裝內(nèi)有兩種以上的型號 |A |手擦 | | |1 |氧化 |引腳氧化,不能上錫 |A |目檢/試驗 | |變 | | | | | | |壓 | | | | | | |器 | | | | | | | |2 |破損 |變壓器引出線或線圈本身出現(xiàn)了破損 |A |目檢 | | |3 |體積 |試裝PCB板,配合不好或型號不對 |A |試裝/對BOM | | |4 |焊接 |引出腳與繞線引出頭焊接不良 |A |萬用表 | | |5 |測試 |測試初次級之間電阻值為零 |A |萬用表 | | |1 |氧化 |引腳有氧化,難上錫 |A |目檢/試驗 | |可 | | | | | | |調(diào) | | | ...
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