統(tǒng)計技術(shù)基礎(chǔ)知識及統(tǒng)計過程控制(ppt)
統(tǒng)計技術(shù)基礎(chǔ)知識
及統(tǒng)計過程控制
課程大綱
第一章 統(tǒng)計基礎(chǔ)知識
1、統(tǒng)計技術(shù)在質(zhì)量管理體系中的作用
2、數(shù)據(jù)分析是統(tǒng)計技術(shù)的基礎(chǔ)
2.1、數(shù)據(jù)的計量尺度
2.2、數(shù)據(jù)的分類
2.3、數(shù)據(jù)的要求
3、幾個重要的統(tǒng)計技術(shù)概念
3.1、數(shù)理統(tǒng)計與統(tǒng)計技術(shù)
3.2、總體、個體與樣本
3.3、生產(chǎn)批與檢驗批
3.4、事件
3.5、數(shù)據(jù)的特征值
3.6、概率分布
3.7、方差分析
3.8、回歸分析
4、假設(shè)檢驗
課程大綱
第二章 統(tǒng)計過程控制
一、基本術(shù)語
1、質(zhì)量控制和過程控制
2、統(tǒng)計過程控制與統(tǒng)計控制
3、普通原因和特殊原因
4、過程固有變差和過程總變差
5、過程能力和過程性能
6、過程度量參數(shù)
二、影響過程能力指數(shù)的主要因素
三、統(tǒng)計過程控制知識
控制圖
計量型控制圖
計數(shù)型控制圖
過程控制解釋
過程能力解釋

一、統(tǒng)計技術(shù)在質(zhì)量管理體系中的作用
（一）可幫助組織了解變異，有助于組織解決問題并提高有效性和效率，也有助于更好地利用可獲得的數(shù)據(jù)進行決策。

（六）過程度量參數(shù)——過程能力指數(shù)
1、Cp——定義為容差寬度除以過程能力，不考慮過程有無偏移，一般表示為：
2、CR——穩(wěn)定過程的能力比值，是Cp的倒數(shù)。
3、CpU——上限能力指數(shù)，定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限，一般：
4、CpL——下限能力指數(shù)，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限，一般表：
5、CpK——考慮到過程中心的能力指數(shù)，定義為CpU和CpL的最小值。
6、CpM——樣本均值和目標值之間的差別影響
（七）過程度量參數(shù)——過程性能指數(shù)
Pp——定義為容差寬度除以過程性能，不考慮過程有無偏移，一般表示為：
PR——性能比值，是Pp的倒數(shù)。
PpU——上限性能指數(shù)，定義為容差范圍上限除以過程性能寬度上限，一般表示為：
PpL——下限能力指數(shù)，定義為容差范圍下限除以過程性能寬度下限，一般表示為：
PpK——考慮到過程中心的性能指數(shù)，定義為PpU和PpL的最小值。
PpM——樣本均值和目標值之間的差別影響：

統(tǒng)計過程控制知識
控制圖
計量型控制圖
計數(shù)型控制圖
過程控制解釋
過程能力解釋


（五）控制圖分類—1、計量型控制圖
平均值—極差（Xbar-R）
平均值—標準差（Xbar-s）
單值—移動極差（X-MR）
中位數(shù)（ ）
移動均值—移動極差（MXbar-MR）
移動均值—移動標準差（MXbar-Ms）
均值累積和（CUSUM）（子組容量必須大于2）
單值累積和（CUSUM）
均值指數(shù)加權(quán)移動平均（EWMA）（子組容量必須大于2）
單值指數(shù)加權(quán)移動平均（EWMA）
（五）控制圖分類
2、計數(shù)型控制圖
不合格品率p圖
不合格品數(shù)np圖
不合格數(shù)c圖
c、過程控制解釋
以平均值—極差圖為例
分析極差圖上的數(shù)據(jù)點
任何超出控制限的數(shù)據(jù)點
鏈
明顯的非隨機圖形
識別并標注特殊原因（極差圖）
重新計算控制限（極差圖）
分析均值圖上的數(shù)據(jù)點
識別并標注特殊原因（均值圖）
重新計算控制限（均值圖）

過程能力解釋
假設(shè)條件
統(tǒng)計穩(wěn)定狀態(tài)
測量值服從正態(tài)分布
計算過程的標準差（極差或標準差）
計算過程能力（Cp等參數(shù)）
評價過程能力
依據(jù)—過程是否符合顧客的要求
措施—通過減少普通原因引起的變差或?qū)⑦^程均值調(diào)整到接近目標值的方法來改進過程性能。
過程調(diào)整（6種模式）

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