電子電器系統(tǒng)可靠性設(shè)計與測試技術(shù)

課程大綱                                                                 

第 一部分：可靠性設(shè)計與失效分析

1、電路可靠性設(shè)計基礎(chǔ)

1.1、可靠性定義

1.2、環(huán)境應(yīng)力分析

1.3、人機(jī)交互分析

1.4、關(guān)聯(lián)設(shè)備互動分析

1.5、過渡過程應(yīng)力

1.6、負(fù)載波動分析

1.7、單一故障分析

1.8、可靠性預(yù)計分析

1.9、判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

1.10 電子、機(jī)電一體化設(shè)備的可靠性模型；

1.11 系統(tǒng)失效率的影響要素；

2、電路可靠性設(shè)計規(guī)范與設(shè)計工程計算

2.1 降額設(shè)計規(guī)范

2.2 電路熱設(shè)計規(guī)范

2.3 電路安全性設(shè)計規(guī)范；

2.4 EMC設(shè)計規(guī)范

2.5 PCB設(shè)計規(guī)范

2.6 拉氏變換的物理含義與電路設(shè)計應(yīng)用

2.7 微積分與電路設(shè)計的應(yīng)用

2.8 概率論數(shù)理統(tǒng)計提升電子產(chǎn)品質(zhì)量的應(yīng)用方法

2.9 基礎(chǔ)代數(shù)的電路設(shè)計工程計算應(yīng)用（代數(shù)、三角函數(shù)、解析幾何）

2.10 datasheet參數(shù)解讀及對電路性能的影響

3、器件失效規(guī)律與分析方法

3.1 持續(xù)性應(yīng)力與浪涌應(yīng)力的區(qū)別

3.2 電壓應(yīng)力與電流應(yīng)力的故障現(xiàn)象區(qū)別

3.3 MSD與機(jī)械應(yīng)力損傷的特征、成因、解決措施

3.4 基于端口特性阻抗曲線的失效測試分析方法

3.5 常用器件失效機(jī)理、失效特征、應(yīng)對措施

第二部分：可靠性測試試驗

1、 測試分類

2、測試輸入內(nèi)容

2.1、產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境調(diào)查表

2.2、可靠性設(shè)計問答表Doc版

2.3、軟件系統(tǒng)測試用例設(shè)計表excel版

3、可靠性測試用例設(shè)計方法3.1、標(biāo)準(zhǔn)符合性測試

3.2、用戶模擬測試

3.3、基于失效機(jī)理的應(yīng)力測試

3.4、邊緣極限條件組合應(yīng)力測試

3.5、過渡過程應(yīng)力測試

3.6、應(yīng)力變化率測試

3.7、一致性測試

  3.8、HALT綜合試驗

3.9、基于單一故障的測試用例設(shè)計

3.10、壽命鑒定試驗

3.11、以產(chǎn)品實物進(jìn)行測試用例的設(shè)計研討

講師簡介

武曄卿                                                                      

電子工程碩士。曾任航天二院總體設(shè)計所主任設(shè)計師、高級項目經(jīng)理，機(jī)電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。

有電子產(chǎn)品、軍工、通信等專業(yè)方向的設(shè)計、測評和技術(shù)管理經(jīng)歷，對產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計、可靠性設(shè)計、技術(shù)管理有較深入研究，曾在學(xué)術(shù)會議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專業(yè)文章。曾為比亞迪、中電30所、29所、松下電工、北京華峰測控、北京航天長峰、普析通用儀器、航天二院、航天五院、深圳普博、伯特利閥門集團(tuán)、北控高科、南車四方股份等企業(yè)提供專業(yè)技術(shù)和技術(shù)管理輔導(dǎo)、培訓(xùn)和咨詢。曾作為核心團(tuán)隊成員經(jīng)歷一個企業(yè)由零到幾個億、研發(fā)團(tuán)隊由幾個人到近二百人的發(fā)展過程，深諳企業(yè)發(fā)展過程的產(chǎn)品可靠性問題和解決方法。

主講課程：《電路系統(tǒng)可靠性設(shè)計》、《嵌入式軟件可靠性設(shè)計》、《電子系統(tǒng)測試》、《電子電器產(chǎn)品電磁兼容分析設(shè)計》等。

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